Тестер транзисторов детектор IC Meter Diode 74/54 series AD/DA 4000/4500 + программное

Характеристики

1 микросхема тестер

1,1 введение

В экспериментальной части школьного обучения использование интегрированного чипа требует многих основных функций. Например, серия gate 74/54, AD / DA чип усилители, компараторы, транзисторы, оптопары и т. Д.

По мере того как студенты начинают узнавать схему, использование процесса, есть много случайных глупой ошибки, причиняющей повреждение чипа, чтобы вызвать много проблем позже в эксперименте, так в эксперименте, чтобы исключить такие факторы, экономя время обучения, Необходимо использовать специальный инструмент для тестирования чипов. Кроме того, этот чип-тестер поддерживает функцию автоматического поиска, найти чип будет автоматически отображаться после успешной модели.

Конечно,В другихСлучая, выТакже можно использовать тестер для проверкиВIC гOodИли плохой.

1,2 Особенности 

1 на основе стандартного интерфейса USB, plug and play;

2 стандартных 40-контактных гнезда, самый большой размер 40Pin-кодВ IC;

3 системы с функцией самостоятельного тестирования, модель чипа может автоматически определить;

4. Может протестировать чипы TTL серии 74/54, чип серии 4000/4500;

5 МожетТестовые усилители, компараторы, транзисторы, интегральные схемы, такие как чип с оптопарой;

6 можно использовать для тестирования AD, DA чипа;

7 поддержка драйвера win2000 / winxp / win2003/win7;

8 Тестер аппаратного и программного обеспечения независимый дизайн, чип-библиотека онлайн обновления в реальном времени, простота в использовании;

9 в соответствии с чипами, поставляемыми пользователем для тестирования (подлежит индивидуальному заказу).

1,3 Инструкция по применению

1. Сначала установите программное обеспечение, установка завершена, вставьте чип-тестер, система автоматически предложит установить драйвер устройства, следуйте инструкциям, используя автоматическую установку.

(Примечание: При установкеПрограммное обеспечениеЗакрытьАнтивирусное программное обеспечение)

2. Запуск программного обеспечения для тестирования чипов.

Процедура тестирования:

(1) в раскрывающемся окне выберите тип внутри чипа выберите категорию

(2) выберите хорошую категорию, в которой определенное устройство, выберите конкретную модель чипа.

(3)Вставка чипа-Инкапсуляция погружения

Вставьте чип с выемкой вверх, выравнивая нижнюю линию с нижней частью

Линия розетки. На приведенной ниже диаграмме показан процесс вставки 28-Pin-код

Чип.

Чип вставки-Нет-DIP инкапсуляции

Адаптеры для розеток доступны для других инкапсуляций, включая PLCC, QFP и

SOIC. См. Информацию о адаптере на экране информации об устройстве. В

Вставка соответствует положению Штифта 1. Чтобы определить штифт 1 чипа, найдите на чипе твердый квадрат или точку, которая дает информацию о чипе. Это также указывает на первый контакт чипа. 

(3) Выберите чип, нажмите на кнопку «Тест», затем индикатор будет тестировать светильник. Программное обеспечение автоматически тестирует указанный чип хорошо или плохо.

(4) Если чип неразборчив и не может знать конкретную модель чипа, вы можете выбрать кнопку «Auto Scan Test», программное обеспечение будет автоматически переноситься в библиотека с чипа внутри, если соответствие на конкретных моделях, Чип автоматически подскажет модель.

Примечание: Автоматическое сканирование-это устройство, которое сканирует текущие категории, если другие типы сканирования, проверьте другие категории, а затем нажмите на кнопку «автоматическое сканирование».

(5)ВПрограммное обеспечение покажет результат теста, пройденного илиОтказ, еслиПройденный результат покажетПодробная информацияСерия HC или LS.Для , Например,Результат покажет информацию о состоянииВставленыЧип 74HC00 или 74LS00.