Одинарная кристальная Кремниевая пластина/двухсторонняя полированная

Характеристики

Описание

Двухсторонняя полировка одинарного кристалла кремния

Характеристики:

Один кристалл,Двухсторонняя полировка, 12 дюймов

Материал:

Высокая чистота кремния Si одиночный Кристалл подложки. N/P опционально.

Использование:

1. PVD/CVD покрытие подложки

2. Используется как XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), AFM (атомный силовой микроскоп), FTIR инфракрасный, флуоресцентная спектроскопия и другие аналитические испытательные подложки

3. Экспериментальный носитель образцов синхротронного излучения

4. Подложка для молекулярного пучка эпитаксиального выращивания

5. Процесс литографии полупроводников и так далее