Встроенный штырьковый тестовый разъем STM32 с шагом 0 5 мм массовое производство

Характеристики

Modname = ckeditor

Примечание: электронные продукты будут обновлены в режиме реального времени, фотографии только для справки

Использование продукта	Тест и программа STM32-QFP100 Упакованные чипы
Подходящая модель	STM32 QFP100 посылка: Серия STM32L1xxV (например: STM32L151VB, STM32L152VB) Серия STM32F1xxV (например: STM32F103VE, STM32F100VE) Серия STM32F2xxV (например: STM32F207VC, STM32F215VC) Серия STM32F3xxV (например: STM32F303VC, STM32F373VB) Серия STM32F4xxV (например: STM32F407VG, STM32F415VG)
Особенности	Все колышки для чип выведены по штыревые разъемы, вытащить шпильку расстояние составляет 2,54 мм (100mil) Бортовой JTAG, SWD, интерфейс UART1, может непосредственно тестировать и программировать Соответствующие модели Встроенная высокоскоростная внешняя кристаллическая розетка (кристаллический осциллятор может быть настроен) На плате есть два светодиода, которые могут использоваться для обозначения состояния теста (Перемычка может быть открыта и не занимать ресурсы ввода/вывода)

Подробные спецификации STM32-QFP100/тестового гнезда применимый чип и внешние размеры гнезда адаптера:

Единица измерения: мм

Модель	Расстояние штыря	Штифт-выход	Длинная * секция (основной корпус)	Длина * секция (включая булавки)
LQFP-100-0.5-01	0,5	100	14 × 14	16 × 16

Определение интерфейса программирования

20-контактный разъем JTAG/SWD интерфейс высокой четкости

Конфигурация режима загрузки --- конфигурация интерфейса загрузки

Список конфигурации

1.STM32-QFP100 × 1

2. Usb-кабель × 1

---